Galvan tiến hành thí nghiệm chụp cắt lớp bộ não ở những người trẻ để nắm rõ mức độ căng thẳng. Điều này có liên quan tới sự khác biệt về não bộ ở những người trẻ, đặc biệt dưới sức ép của trạng thái căng thẳng hay khi đưa ra những quyết định mạo hiểm. Tuổi teen là một giai đoạn đầy biến động về tâm lý và ít chín chắn hơn người trưởng thành. Theo nghiên cứu của Adriana Galvan, Đại học California, được công bố trên tờ ScienceNatio - một ấn phẩm online của Quỹ Khoa học Quốc gia (NSF): "Tuổi teen trải qua stress với mức độ căng thẳng mạnh hơn người lớn. Nếu stress tác động vào quá trình ra quyết định, thì quan trọng là chúng ta phải hiểu cơ chế thần kinh cấu thành mối liên kết giữa mức độ căng thẳng của stress và những quyết định tồi tệ." Galvan tiến hành thí nghiệm chụp cắt lớp bộ não ở những người trẻ để nắm rõ mức độ căng thẳng, quá trình suy nghĩ và khả năng ra quyết định của họ. Khi các bạn trẻ trong nhóm đối tượng nghiên cứu gặp phải một ngày tồi tệ (mức độ stress đạt mức cao nhất trong thang đo từ 1 tới 7), họ được chụp cắt lớp để thấy chính xác điều gì đang diễn ra trong đầu và họ đã ra quyết định như thế nào. Galvan cho biết: "Não bộ của các bạn trẻ tuổi teen có độ hoạt hóa cao hơn người lớn khi đưa ra những quyết định mạo hiểm, và họ cũng có những lựa chọn liều lĩnh hơn so với người lớn." Sự khác biệt này chắn chắn liên quan tới sự thay đổi ở vùng vỏ não trước trán, khu vực có liên quan tới những điều chỉnh hành vi, bao gồm cả việc tiên đoán những hậu quả có thể xảy đến trong tương lai do hành động mang lại. Theo Galvan, ở tuổi teen vùng não này còn đang phát triển và thiếu sự ổn định, chín chắn, khiến các bạn trẻ có vẻ như thường hành động mà không hiểu rõ hậu quả đang chờ đợi họ. Nắm được cơ chế này đã giải quyết được một nửa vấn đề. Galvan đưa ra lời khuyên rằng các bạn trẻ có thể giảm bớt căng thẳng do stress mang lại và hạn chế những quyết định liều lĩnh bằng cách dành thêm chút thời gian về những hậu quả của quyết định trong lúc nông nổi và những hậu quả này tác động về lâu dài như thế nào. HOÀNG HÀ (theo NSF)
